Электронный каталог

Статья

Jung, S.
An Investigation of Single-Event Transients in C-SiGe HBT on SOI Current Mirror Circuits / S.Jung, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2014. – Vol.61, No.6, Pt.1. – p.3193-3200. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2014.2358207. – Bibliogr.:31.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$