Электронный каталог

Статья

Hubert, G.
SET and SEU Analyses Based on Experiments and Multi-Physics Modeling Applied to the ATMEL CMOS Library in 180 and 90-nm Technological Nodes / G.Hubert, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2014. – Vol.61, No.6, Pt.1. – p.3178-3186. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2014.2363764. – Bibliogr.:21.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$