Электронный каталог -Kastensmidt, F. L. - Laser Testing Methodology for Diagnosing Diverse Soft Errors in a Nanoscale SRAM-Based FPGA

Статья
Автор: Kastensmidt, F. L.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Laser Testing Methodology for Diagnosing Diverse Soft Errors in a Nanoscale SRAM-Based FPGA
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст

На полку

Статья

Kastensmidt, F.L.
Laser Testing Methodology for Diagnosing Diverse Soft Errors in a Nanoscale SRAM-Based FPGA / F.L.Kastensmidt, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2014. – Vol.61, No.6, Pt.1. – p.3130-3137. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2014.2369008. – Bibliogr.:21.

Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$

Электронный каталог

Поиск :

Личный кабинет :

Электронный каталог: Kastensmidt, F. L. - Laser Testing Methodology for Diagnosing Diverse Soft Errors in a Nanoscale SRAM-Based FPGA

Kastensmidt, F. L. - Laser Testing Methodology for Diagnosing Diverse Soft Errors in a Nanoscale SRAM-Based FPGA

Электронный каталог

Поиск :

Личный кабинет :

Электронный каталог: Kastensmidt, F. L. - Laser Testing Methodology for Diagnosing Diverse Soft Errors in a Nanoscale SRAM-Based FPGA

Kastensmidt, F. L. - Laser Testing Methodology for Diagnosing Diverse Soft Errors in a Nanoscale SRAM-Based FPGA

Привязано к: