Электронный каталог -Samaras, A. - Experimental Characterization and Simulation of Electron-Induced SEU in 45-nm CMOS Technology- Absopac

Статья
Автор: Samaras, A.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Experimental Characterization and Simulation of Electron-Induced SEU in 45-nm CMOS Technology
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст

На полку

Статья

Samaras, A.
Experimental Characterization and Simulation of Electron-Induced SEU in 45-nm CMOS Technology / A.Samaras, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2014. – Vol.61, No.6, Pt.1. – p.3055-3067. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2014.2367544. – Bibliogr.:9.

Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$

Электронный каталог

Поиск :

Личный кабинет :

Электронный каталог: Samaras, A. - Experimental Characterization and Simulation of Electron-Induced SEU in 45-nm CMOS Technology

Samaras, A. - Experimental Characterization and Simulation of Electron-Induced SEU in 45-nm CMOS Technology

Электронный каталог

Поиск :

Личный кабинет :

Электронный каталог: Samaras, A. - Experimental Characterization and Simulation of Electron-Induced SEU in 45-nm CMOS Technology

Samaras, A. - Experimental Characterization and Simulation of Electron-Induced SEU in 45-nm CMOS Technology

Привязано к: