Электронный каталог

Статья

Weeden-Wright, S.L.
TID and Displacement Damage Resilience of 1T1R HfO&sub(2)/Hf Resistive Memories / S.L.Weeden-Wright, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2014. – Vol.61, No.6, Pt.1. – p.2972-2978. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2014.2362538. – Bibliogr.:18.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$