Электронный каталог

Статья

Raine, M.
Exploring the Kinetics of Formation and Annealing of Single Particle Displacement Damage in Microvolumes of Silicon / M.Raine, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2014. – Vol.61, No.6, Pt.1. – p.2826-2833. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2014.2364397. – Bibliogr.:22.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.1м - Полупроводниковые детекторы
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$