Электронный каталог

Статья

Fiorini, M.
Radiation Hardness Tests and Characterization of the CLARO-CMOS, a Low Power and Fast Single-Photon Counting ASIC in 0.35 Micron CMOS Technology / M.Fiorini, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A. – 2014. – Vol.766. – p.228-230. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2014.04.072. – Bibliogr.:6.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.3 - Ядерная электроника$
Спец.(статьи,препринты) = С 344.1з - Черенковские счетчики