Электронный каталог

Статья

Zhang, Z.
Investigation of Threshold Ion Range for Accurate Single Event Upset Measurements in Both SOI and Bulk Technologies / Z.Zhang, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2014. – Vol.61,No.3, Pt.2. – p.1459-1467. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2014.2325063. – Bibliogr.:23.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.3 - Ядерная электроника$
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$