Электронный каталог

Статья

Kudo, T.
Development of Experimental Methodology for Highly Efficient Wafer-Level Evaluation of X-Ray Radiation Effects on Semiconductor Devices / T.Kudo, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2014. – Vol.61,No.3, Pt.2. – p.1444-1450. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2014.2321766. – Bibliogr.:11.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$