Электронный каталог

Статья

Arora, R.
Impact of Technology Scaling in Sub-100 nm nMOSFETs on Total-Dose Radiation Response and Hot-Carrier Reliability / R.Arora, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2014. – Vol.61,No.3, Pt.2. – p.1426-1432. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2014.2320494. – Bibliogr.:28.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.3 - Ядерная электроника$
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$