Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Косырев, Н.Н. - Эллипсометрическая методика определения показателя поглощения полупроводниковых нанослоев in situ
Косырев, Н.Н. - Эллипсометрическая методика определения показателя поглощения полупроводниковых нанослоев in situ
Статья
Автор: Косырев, Н.Н.
Журнал технической физики: Эллипсометрическая методика определения показателя поглощения полупроводниковых нанослоев in situ
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Косырев, Н.Н.
Журнал технической физики: Эллипсометрическая методика определения показателя поглощения полупроводниковых нанослоев in situ
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Косырев, Н.Н.
Эллипсометрическая методика определения показателя поглощения полупроводниковых нанослоев in situ / Н.Н.Косырев, [и др.] // Журнал технической физики. – 2014. – T.84, No.5. – с.109-112. – URL: http://journals.ioffe.ru/jtf/2014/05/p109-112.pdf. – Библиогр.:17.
Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$
Косырев, Н.Н.
Эллипсометрическая методика определения показателя поглощения полупроводниковых нанослоев in situ / Н.Н.Косырев, [и др.] // Журнал технической физики. – 2014. – T.84, No.5. – с.109-112. – URL: http://journals.ioffe.ru/jtf/2014/05/p109-112.pdf. – Библиогр.:17.
Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$
Привязано к:
Доступно
1 из 1