Электронный каталог

Статья

Aprile, E.
An Atom Trap Trace Analysis System for Measuring Krypton Contamination in Xenon Dark Matter Detectors / E.Aprile, [a.o.] // Review of Scientific Instruments. – 2013. – Vol.84, No.9. – p.093105. – URL: http://dx.doi.org/10.1063/1.4821879. – Bibliogr.:21.



Спец.(статьи,препринты) = С 332 б - Атомы и ионы в ловушках