Электронный каталог

Статья

Ullan, M.
Enhanced Low Dose Rate Sensitivity (ELDRS) Tests on Advanced SiGe Bipolar Transistors for Very High Total Dose Applications / M.Ullan, [a.o.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A : Accelerators,spectrometers,detectors and associated equipment. – 2013. – Vol.724. – p.41-46. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2013.04.088. – Bibliogr.:20.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$