Электронный каталог

Статья

Arashti, M.G.
Low-Temperature Electrical Characterization of the Ti-Si(100) Interface at the p-Si/SiGe/Si-Ti Structure Using Hall Measurement Analysis / M.G.Arashti, M.A.Sadeghzadeh // Physica Scripta. – 2013. – Vol.88, No.2. – p.025701. – URL: http://dx.doi.org/10.1088/0031-8949/88/02/025701. – Bibliogr.:27.



Спец.(статьи,препринты) = С 326.4 - Коллективные эффекты. Сверхизлучение. Квантовая оптика. Эффект Холла