Электронный каталог

Статья

Martinez, N.
Total Dose Effects: A New Approach to Assess the Impact of Radiation on Device Reliability / N.Martinez, [a.o.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2013. – Vol.60,No.3, Pt.3. – p.2266-2271. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2013.2254128. – Bibliogr.:10.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$