Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: DeIonno, E. - Displacement Damage in TiO&sub(2) Memristor Devices
DeIonno, E. - Displacement Damage in TiO&sub(2) Memristor Devices
Статья
Автор: DeIonno, E.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Displacement Damage in TiO&sub(2) Memristor Devices
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: DeIonno, E.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Displacement Damage in TiO&sub(2) Memristor Devices
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
DeIonno, E.
Displacement Damage in TiO&sub(2) Memristor Devices / E.DeIonno, [a.o.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2013. – Vol.60,No.2, Pt.2. – p.1379-1383. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2013.2249529. – Bibliogr.:13.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
DeIonno, E.
Displacement Damage in TiO&sub(2) Memristor Devices / E.DeIonno, [a.o.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2013. – Vol.60,No.2, Pt.2. – p.1379-1383. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2013.2249529. – Bibliogr.:13.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
IEEE Transactions on Nuclear Science Vol.60,No.2, Pt.2
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 04/2013 г.
ISBN отсутствует
Библиотека : ЦБ.ЧЗ
IEEE Transactions on Nuclear Science Vol.60,No.2, Pt.2
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 04/2013 г.
ISBN отсутствует
Библиотека : ЦБ.ЧЗ