Электронный каталог

Статья

Chen, J.
Normal-Incidence Electron Gun Alignment Method for Negative Ion Analysis on Insulators by Magnetic Sector SIMS / J.Chen, [a.o.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B : Beam Interactins with Materials and Atoms. – 2013. – Vol.295. – p.50-54. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2012.11.001. – Bibliogr.:11.



Спец.(статьи,препринты) = С 345 н - Источники ионов и электронные пушки. Источники поляризованных ионов. Получение пучков поляризованных частиц