Электронный каталог

Статья

Yan, Y.
Analysis of the TID Induced Failure Modes in NOR and NAND Flash Memories / Y.Yan, [a.o.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2013. – Vol.60,No.1, Pt.2. – p.224-229. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2012.2234138. – Bibliogr.:13.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$