Электронный каталог

Статья

He, X.
Superior TID Hardness in TiN/HfO&sub(2)/TiN ReRAMs After Proton Radiation / X.He, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2012. – Vol.59,No.5, Pt.3. – p.2550-55. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2012.2208480. – Bibliogr.:35.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$