Электронный каталог

Книга
С33а А-593

Альфорд, Терри Л.
Фундаментальные основы анализа нанопленок / Терри Л.Альфорд, Леонард К.Фельдман, Джеймс В.Майер ; Пер. с англ.: А.Н.Образцов, М.А.Долганов ; Науч. ред. рус. изд.: А.Н.Образцов. – М. : Научный мир, 2012. – 392 с. : ил. – (Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники / Гл.ред.: Хохлов А.Р.). – URL: http://my-shop.ru/shop/books/1356714.html. – Библиогр. в конце гл. – Пер.изд.: Fundamentals of Nanoscale Film Analysis/ T.L.Alford, L.C.Feldman, J.W.Mayer.- Springer: [S.L.], 2007. – ISBN 978-5-915222-25-9.

С33а + С342 + С377 + С378
082.1; 539.216.2


Индексный (книги) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология
Индексный (книги) = С 342 - Прохождение частиц и гамма-квантов через вещество
Индексный (книги) = С 377 - Спектроскопия. Экспериментальные методы и аппаратура спектроскопии. Спектрометрия. Спектрофотометрия. Спектрографы. Спектроскопия атомов и молекул. Спектры излучения (эмиссионные спектры). Инфракрасная спектроскопия и ультрафиолетовая спектроскопия. Спектральный анализ. Колебательные и вращательные спектры. Колебания молекул. Лазерная спектроскопия
Индексный (книги) = С 378 - Отдельные виды излучений. Рентгеновские лучи. (Х-лучи). Гамма-лучи. Рентгеновская спектроскопия. Оптические явления. Отражение. Преломление. Интерференция. Дифракция. Ультрафиолетовые лучи. Инфракрасные лучи
Ключевых слов = нанометрия
Ключевых слов = нанопленки
Ключевых слов = модель атома Бора
Ключевых слов = спектрометрия
Ключевых слов = рассеяние нейтронов
Ключевых слов = легкие ионы
Ключевых слов = ионная имплантация
Ключевых слов = дифракция
Ключевых слов = рентгеновское излучение
Ключевых слов = электроны
Ключевых слов = электронная спектроскопия
Ключевых слов = рентгеновская спектроскопия
Ключевых слов = сканирующая зондовая микроскопия