Электронный каталог

Статья

Тарасов, И.А.
Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и профилей оптических постоянных в процессе роста наноструктур Fe/SiO&sub(2)/Si(100) / И.А.Тарасов, [и др.] // Журнал технической физики. – 2012. – T.82, No.9. – с.44-48. – URL: http://journals.ioffe.ru/jtf/2012/09/p44-48.pdf. – Библиогр.:18.



Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$