Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Liu, S. - Comparison of the Susceptibility to Soft Errors of SRAM-Based FPGA Error Correction Codes Impleme...
Liu, S. - Comparison of the Susceptibility to Soft Errors of SRAM-Based FPGA Error Correction Codes Impleme...
Статья
Автор: Liu, S.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Comparison of the Susceptibility to Soft Errors of SRAM-Based FPGA Error Correction Codes Impleme...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Liu, S.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Comparison of the Susceptibility to Soft Errors of SRAM-Based FPGA Error Correction Codes Impleme...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Liu, S.
Comparison of the Susceptibility to Soft Errors of SRAM-Based FPGA Error Correction Codes Implementations / S.Liu, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2012. – Vol.59,No.3, Pt.2. – p.619-624. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2012.2193417. – Bibliogr.:20.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Liu, S.
Comparison of the Susceptibility to Soft Errors of SRAM-Based FPGA Error Correction Codes Implementations / S.Liu, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2012. – Vol.59,No.3, Pt.2. – p.619-624. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2012.2193417. – Bibliogr.:20.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
IEEE Transactions on Nuclear Science Vol.59,No.3, Pt.2
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 06/2012 г.
ISBN отсутствует
Библиотека : ЦБ.ЧЗ
IEEE Transactions on Nuclear Science Vol.59,No.3, Pt.2
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 06/2012 г.
ISBN отсутствует
Библиотека : ЦБ.ЧЗ