Электронный каталог

Статья

Rezgui, S.
Investigation of Low Dose Rate and Bias Conditions on the Total Dose Tolerance of a CMOS Flash-Based FPGA / S.Rezgui, [a.o.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2012. – Vol.59,No.1, Pt.2. – p.134-143. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2011.2179316. – Bibliogr.:16.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$