Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Никитин, А.В. - Использование математического моделирования для измерений наноразмеров в микроэлектронике
Никитин, А.В. - Использование математического моделирования для измерений наноразмеров в микроэлектронике
Статья
Автор: Никитин, А.В.
Измерительная техника: Использование математического моделирования для измерений наноразмеров в микроэлектронике
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Никитин, А.В.
Измерительная техника: Использование математического моделирования для измерений наноразмеров в микроэлектронике
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Никитин, А.В.
Использование математического моделирования для измерений наноразмеров в микроэлектронике / А.В.Никитин // Измерительная техника. – 2011. – No.12. – с.25-29. – Библиогр.:13.
Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$
Никитин, А.В.
Использование математического моделирования для измерений наноразмеров в микроэлектронике / А.В.Никитин // Измерительная техника. – 2011. – No.12. – с.25-29. – Библиогр.:13.
Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Измерительная техника No.12
ИПК Издательство стандартов, 12/2011 г.
ISBN отсутствует
Библиотека : ЦБ
Измерительная техника No.12
ИПК Издательство стандартов, 12/2011 г.
ISBN отсутствует
Библиотека : ЦБ