Электронный каталог

Статья

Lee, S.
Memory Reliability Model for Accumulated and Clustered Soft Errors / S.Lee, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2011. – Vol.58,No.5, Pt.2. – p.2483-92. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2011.2164555. – Bibliogr.:19.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$