Электронный каталог

Статья

Irom, F.
Evaluation of Mechanisms in TID Degradation and SEE Susceptibility of Single- and Multi-Level High Density NAND Flash Memories / F.Irom, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2011. – Vol.58,No.5, Pt.2. – p.2477-82. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2011.2161885. – Bibliogr.:25.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$