Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Rennie, D. J. - Novel Soft Error Robust Flip-Flops in 65nm CMOS
Rennie, D. J. - Novel Soft Error Robust Flip-Flops in 65nm CMOS
Статья
Автор: Rennie, D. J.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Novel Soft Error Robust Flip-Flops in 65nm CMOS
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Rennie, D. J.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Novel Soft Error Robust Flip-Flops in 65nm CMOS
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Rennie, D.J.
Novel Soft Error Robust Flip-Flops in 65nm CMOS / D.J.Rennie, M.Sachdev // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2011. – Vol.58,No.5, Pt.2. – p.2470-76. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2011.2162745. – Bibliogr.:13.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Rennie, D.J.
Novel Soft Error Robust Flip-Flops in 65nm CMOS / D.J.Rennie, M.Sachdev // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2011. – Vol.58,No.5, Pt.2. – p.2470-76. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2011.2162745. – Bibliogr.:13.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
IEEE Transactions on Nuclear Science Vol.58,No.5, Pt.2
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 11/2011 г.
ISBN отсутствует
Библиотека : ЦБ.ЧЗ
IEEE Transactions on Nuclear Science Vol.58,No.5, Pt.2
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 11/2011 г.
ISBN отсутствует
Библиотека : ЦБ.ЧЗ