Электронный каталог

Статья

Sterpone, L.
Layout-Aware Multi-Cell Upsets Effects Analysis on TMR Circuits Implemented on SRAM-Based FPGAs / L.Sterpone, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2011. – Vol.58,No.5, Pt.2. – p.2325-32. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2011.2161887. – Bibliogr.:27.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$