Электронный каталог

Статья

Szenes, G.
Thermal Spike Analysis of Ion-Induced Tracks in Semiconductors / G.Szenes // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B : Beam Interactins with Materials and Atoms. – 2011. – Vol.269, No.19. – p.2075-2079. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2011.06.014. – Bibliogr.:28.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.1м - Полупроводниковые детекторы