Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Лашевский, Р.А. - Использование тестовых структур для анализа причин брака и оценки надежности БИС
Лашевский, Р.А. - Использование тестовых структур для анализа причин брака и оценки надежности БИС
Доступно
1 из 1
1 из 1
Книга
Автор: Лашевский, Р.А.
Использование тестовых структур для анализа причин брака и оценки надежности БИС
Серия: Обзоры по электронной технике. Сер.3. Микроэлектроника
Издательство: ЦНИИ "Электроника", 1980 г.
ISBN отсутствует
Автор: Лашевский, Р.А.
Использование тестовых структур для анализа причин брака и оценки надежности БИС
Серия: Обзоры по электронной технике. Сер.3. Микроэлектроника
Издательство: ЦНИИ "Электроника", 1980 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Книга
Ц738.1 Л-32
Лашевский, Р.А.
Использование тестовых структур для анализа причин брака и оценки надежности БИС / Р.А.Лашевский, Н.В.Рабкина. – М. : ЦНИИ "Электроника", 1980. – 31 с. : ил. – (Обзоры по электронной технике. Сер.3. Микроэлектроника ; Вып.4(764)). – Библиогр.:с.28-31.
Ц738.1
Индексный (книги) = Ц 738.1 - Надежность радиоэлектронной аппаратуры. Стандартизация. Точность радиоэлектронной аппаратуры
Ц738.1 Л-32
Лашевский, Р.А.
Использование тестовых структур для анализа причин брака и оценки надежности БИС / Р.А.Лашевский, Н.В.Рабкина. – М. : ЦНИИ "Электроника", 1980. – 31 с. : ил. – (Обзоры по электронной технике. Сер.3. Микроэлектроника ; Вып.4(764)). – Библиогр.:с.28-31.
Ц738.1
Индексный (книги) = Ц 738.1 - Надежность радиоэлектронной аппаратуры. Стандартизация. Точность радиоэлектронной аппаратуры
| Филиал | Фонд | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
|---|---|---|---|---|---|
| ЦБ | 1 | 1 | 1 | Заказать |