Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Olovsson, W. - Interface Core-Level Shifts as a Probe of Embedded Thin-Film Quality
Olovsson, W. - Interface Core-Level Shifts as a Probe of Embedded Thin-Film Quality
Статья
Автор: Olovsson, W.
Physical Review B: Interface Core-Level Shifts as a Probe of Embedded Thin-Film Quality
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Olovsson, W.
Physical Review B: Interface Core-Level Shifts as a Probe of Embedded Thin-Film Quality
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Olovsson, W.
Interface Core-Level Shifts as a Probe of Embedded Thin-Film Quality / W.Olovsson, [et al.] // Physical Review B : Condensed Matter and Materials Physics. – 2011. – Vol.84, No.8. – p.085431. – URL: http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.84.085431. – Bibliogr.:50.
Спец.(статьи,препринты) = С 344.4б - Методы приготовления тонких пленок$
Olovsson, W.
Interface Core-Level Shifts as a Probe of Embedded Thin-Film Quality / W.Olovsson, [et al.] // Physical Review B : Condensed Matter and Materials Physics. – 2011. – Vol.84, No.8. – p.085431. – URL: http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.84.085431. – Bibliogr.:50.
Спец.(статьи,препринты) = С 344.4б - Методы приготовления тонких пленок$
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics Vol.84, No.8
The American Physical Society, 08/2011 г.
ISBN отсутствует
Библиотека : ЦБ.ЧЗ
Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics Vol.84, No.8
The American Physical Society, 08/2011 г.
ISBN отсутствует
Библиотека : ЦБ.ЧЗ