Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Атабаев, И.Г. - Масс-спектры отрицательных вторичных ионов в процессе бомбардировки поверхности p-SiC<B> ионами Cs*+
Атабаев, И.Г. - Масс-спектры отрицательных вторичных ионов в процессе бомбардировки поверхности p-SiC<B> ионами Cs*+
Статья
Автор: Атабаев, И.Г.
Поверхность: Масс-спектры отрицательных вторичных ионов в процессе бомбардировки поверхности p-SiC ионами Cs*+
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Атабаев, И.Г.
Поверхность: Масс-спектры отрицательных вторичных ионов в процессе бомбардировки поверхности p-SiC ионами Cs*+
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Атабаев, И.Г.
Масс-спектры отрицательных вторичных ионов в процессе бомбардировки поверхности p-SiC ионами Cs*+ / И.Г.Атабаев, [и др.] // Поверхность : Рентгеновские,синхротронные и нейтронные исследования. – 2011. – No.8. – с.96-101. – URL: http://www.springerlink.com/content/p739l25520657k03/fulltext.pdf. – Библиогр.:9.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Атабаев, И.Г.
Масс-спектры отрицательных вторичных ионов в процессе бомбардировки поверхности p-SiC ионами Cs*+ / И.Г.Атабаев, [и др.] // Поверхность : Рентгеновские,синхротронные и нейтронные исследования. – 2011. – No.8. – с.96-101. – URL: http://www.springerlink.com/content/p739l25520657k03/fulltext.pdf. – Библиогр.:9.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Поверхность: Рентгеновские,синхротронные и нейтронные исследования No.8
Наука, МАИК "Наука/Интерпериодика", 08/2011 г.
ISBN отсутствует
Библиотека : ЦБ
Поверхность: Рентгеновские,синхротронные и нейтронные исследования No.8
Наука, МАИК "Наука/Интерпериодика", 08/2011 г.
ISBN отсутствует
Библиотека : ЦБ