Электронный каталог -Danhof, J. - Time-of-Flight Measurements of Charge Carrier Diffusion in In&sub(x)Ga&sub(1-x)N/GaN Quantum Wells- Absopac

Статья
Автор: Danhof, J.
Physical Review B: Time-of-Flight Measurements of Charge Carrier Diffusion in In&sub(x)Ga&sub(1-x)N/GaN Quantum Wells
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст

На полку

Статья

Danhof, J.
Time-of-Flight Measurements of Charge Carrier Diffusion in In&sub(x)Ga&sub(1-x)N/GaN Quantum Wells / J.Danhof, [a.o.] // Physical Review B : Condensed Matter and Materials Physics. – 2011. – Vol.84, No.3. – p.035324. – URL: http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.84.035324. – Bibliogr.:31.

Спец.(статьи,препринты) = С 344.1м - Полупроводниковые детекторы

Электронный каталог

Поиск :

Личный кабинет :

Электронный каталог: Danhof, J. - Time-of-Flight Measurements of Charge Carrier Diffusion in In&sub(x)Ga&sub(1-x)N/GaN Quantum Wells

Danhof, J. - Time-of-Flight Measurements of Charge Carrier Diffusion in In&sub(x)Ga&sub(1-x)N/GaN Quantum Wells

Электронный каталог

Поиск :

Личный кабинет :

Электронный каталог: Danhof, J. - Time-of-Flight Measurements of Charge Carrier Diffusion in In&sub(x)Ga&sub(1-x)N/GaN Quantum Wells

Danhof, J. - Time-of-Flight Measurements of Charge Carrier Diffusion in In&sub(x)Ga&sub(1-x)N/GaN Quantum Wells

Привязано к: