Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Саламатов, Ю.А. - Применение EXAFS-спектроскопии с угловым разрешением для исследования слоев и интерфейсов в метал...
Саламатов, Ю.А. - Применение EXAFS-спектроскопии с угловым разрешением для исследования слоев и интерфейсов в метал...
Статья
Автор: Саламатов, Ю.А.
Известия Российской Академии наук. Серия физическая: Применение EXAFS-спектроскопии с угловым разрешением для исследования слоев и интерфейсов в метал...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Саламатов, Ю.А.
Известия Российской Академии наук. Серия физическая: Применение EXAFS-спектроскопии с угловым разрешением для исследования слоев и интерфейсов в метал...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Саламатов, Ю.А.
Применение EXAFS-спектроскопии с угловым разрешением для исследования слоев и интерфейсов в металлических многослойных наногетероструктурах / Ю.А.Саламатов, [и др.] // Известия Российской Академии наук. Серия физическая. – 2011. – Т.75, No.8. – с.1100-02. – URL: http://www.maikonline.com/maik/showArticle.do?auid=VAGS095COU. – Библиогр.:2.
Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$
Саламатов, Ю.А.
Применение EXAFS-спектроскопии с угловым разрешением для исследования слоев и интерфейсов в металлических многослойных наногетероструктурах / Ю.А.Саламатов, [и др.] // Известия Российской Академии наук. Серия физическая. – 2011. – Т.75, No.8. – с.1100-02. – URL: http://www.maikonline.com/maik/showArticle.do?auid=VAGS095COU. – Библиогр.:2.
Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$