Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Неупругое рассеяние. Диффузное рассеяние. Динамическое рассеяние. Магнитное рассеяние. Топография...
Неупругое рассеяние. Диффузное рассеяние. Динамическое рассеяние. Магнитное рассеяние. Топография...
Доступно
3 из 3
3 из 3
Книга
Автор:
Национальная конференция по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов (РСНЭ'97) (1997; Дубна). Т.3: Неупругое рассеяние. Диффузное рассеяние. Динамическое рассеяние. Магнитное рассеяние. Топография...
1997 г.
ISBN 5-85165-483-X
Автор:
Национальная конференция по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов (РСНЭ'97) (1997; Дубна). Т.3: Неупругое рассеяние. Диффузное рассеяние. Динамическое рассеяние. Магнитное рассеяние. Топография...
1997 г.
ISBN 5-85165-483-X
Заказать 
На полку
Многотомник
С342(04)
Национальная конференция по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов (РСНЭ'97) (1997; Дубна) : Национальная конф. по..., Дубна, 25-29 мая 1997 г. (продолжение Всесоюзных совещаний по применению рентгеновских лучей для исследования материалов): Сб. докл. – Дубна : ОИЯИ, 1997. – (ОИЯИ ; Р14-97-343).
Книга
С342(04) Н-354
Т.3 : Неупругое рассеяние. Диффузное рассеяние. Динамическое рассеяние. Магнитное рассеяние. Топография и дифрактометрия. Источники СИ и нейтронов. Аппаратурно-методическое и программное обеспечение экспериментов. СИ в нанотехнологии. – 1997. – 370 с. : ил. – ISBN 5-85165-483-X.
С342(04)
Национальная конференция по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов (РСНЭ'97) (1997; Дубна) : Национальная конф. по..., Дубна, 25-29 мая 1997 г. (продолжение Всесоюзных совещаний по применению рентгеновских лучей для исследования материалов): Сб. докл. – Дубна : ОИЯИ, 1997. – (ОИЯИ ; Р14-97-343).
Книга
С342(04) Н-354
Т.3 : Неупругое рассеяние. Диффузное рассеяние. Динамическое рассеяние. Магнитное рассеяние. Топография и дифрактометрия. Источники СИ и нейтронов. Аппаратурно-методическое и программное обеспечение экспериментов. СИ в нанотехнологии. – 1997. – 370 с. : ил. – ISBN 5-85165-483-X.
