Электронный каталог

Статья

Artola, L.
SEU Prediction From SET Modeling Using Multi-Node Collection in Bulk Transistors and SRAMs Down to the 65 nm Technology Node / L.Artola, [a.o.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2011. – Vol.58,No.3, Pt.3. – p.1338-1346. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2011.2144622. – Bibliogr.:52.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$