Электронный каталог

Статья

Serra, N.
Experimental and TCAD Study of Breakdown Voltage Temperature Behavior in n*+/p SiPMs / N.Serra, [a.o.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2011. – Vol.58,No.3, Pt.3. – p.1233-1240. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2011.2123919. – Bibliogr.:36.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.1м - Полупроводниковые детекторы