Электронный каталог

Статья

Вяткин, А.Ф.
Диагностика отказов интегральных микросхем с использованием физического ионного распыления / А.Ф.Вяткин, В.И.Зиненко // Приборы и техника эксперимента. – 2011. – No.2. – с.132-136. – URL: http://www.maikonline.com/maik/showArticle.do?auid=VAGLXCPSSS. – Библиогр.:6.



Спец.(статьи,препринты) = Ц 738.21 - Интегральные схемы. Микросхемотехника