Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Компан, Т.А. - Метод спекл-интерферометрии для определения теплового расширения наноматериалов
Компан, Т.А. - Метод спекл-интерферометрии для определения теплового расширения наноматериалов
Статья
Автор: Компан, Т.А.
Измерительная техника: Метод спекл-интерферометрии для определения теплового расширения наноматериалов
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Компан, Т.А.
Измерительная техника: Метод спекл-интерферометрии для определения теплового расширения наноматериалов
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Компан, Т.А.
Метод спекл-интерферометрии для определения теплового расширения наноматериалов / Т.А.Компан, [и др.] // Измерительная техника. – 2011. – No.4. – с.48-52. – Библиогр.:14.
Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$
Компан, Т.А.
Метод спекл-интерферометрии для определения теплового расширения наноматериалов / Т.А.Компан, [и др.] // Измерительная техника. – 2011. – No.4. – с.48-52. – Библиогр.:14.
Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$