Электронный каталог

Статья

Kundhikanjana, W.
Cryogenic Microwave Imaging of Metal-Insulator Transition in Doped Silicon / W.Kundhikanjana, [a.o.] // Review of Scientific Instruments. – 2011. – Vol.82, No.3. – p.033705. – URL: http://dx.doi.org/10.1063/1.3554438. – Bibliogr.:28.



Спец.(статьи,препринты) = С 393 - Физика низких температур