Электронный каталог

Статья

Lazanu, I.
Kinetics of Defects in Low Temperature Semiconductor Detectors and Direct Dark Matter Search / I.Lazanu, S.Lazanu // Romanian Reports in Physics. – 2010. – Vol.62, No.2. – p.309-318. – URL: http://www.infim.ro/rrp/2010_62_2/art08Lazanu.pdf. – Bibliogr.:24.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.1 - Методы и аппаратура для регистрации элементарных частиц и фотонов$