Электронный каталог

Статья

Jannaty, P.
Two-Dimensional Markov Chain Analysis of Radiation-Induced Soft Errors in Subthreshold Nanoscale CMOS Devices / P.Jannaty, [a.o.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2010. – Vol.57,No.6, Pt.2. – p.3768-3774. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2010.2068561. – Bibliogr.:15.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$