Электронный каталог

Статья

Zebrev, G.I.
Methodology of Soft Error Rate Computation in Modern Microelectronics / G.I.Zebrev, [a.o.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2010. – Vol.57,No.6, Pt.2. – p.3725-3733. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2010.2073487. – Bibliogr.:34.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$