Электронный каталог

Статья

Jagannathan, S.
Behavioral Modeling Technique for TID Degradation of Complex Analog Circuits / S.Jagannathan, [a.o.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2010. – Vol.57,No.6, Pt.2. – p.3708-3715. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2010.2056699. – Bibliogr.:10.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$