Электронный каталог

Статья

Narita, S.
Measurements of Induced Charge Profile in RPC with Submilli-Strips / S.Narita, [a.o.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2010. – Vol.57,No.4, Pt.2. – p.2210-2214. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2010.2052111. – Bibliogr.:15.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.1и - Искровые камеры. Стримерные камеры