Электронный каталог

Статья

Ming, Z.
Reliability of Memories Protected by Multibit Error Correction Codes Against MBUs / Z.Ming, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2011. – Vol.58,No.1, Pt.2. – p.289-295. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2010.2099667. – Bibliogr.:23.



Спец.(статьи,препринты) = Ц 841 в - Запоминающие устройства
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$