Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Fister, T. T. - Total-Reflection Inelastic X-Ray Scattering from a 10-nm Thick La&sub(0.6)Sr&sub(0.4)CoO&sub(3) T...
Fister, T. T. - Total-Reflection Inelastic X-Ray Scattering from a 10-nm Thick La&sub(0.6)Sr&sub(0.4)CoO&sub(3) T...
Статья
Автор: Fister, T. T.
Physical Review Letters: Total-Reflection Inelastic X-Ray Scattering from a 10-nm Thick La&sub(0.6)Sr&sub(0.4)CoO&sub(3) T...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Fister, T. T.
Physical Review Letters: Total-Reflection Inelastic X-Ray Scattering from a 10-nm Thick La&sub(0.6)Sr&sub(0.4)CoO&sub(3) T...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Fister, T.T.
Total-Reflection Inelastic X-Ray Scattering from a 10-nm Thick La&sub(0.6)Sr&sub(0.4)CoO&sub(3) Thin Film / T.T.Fister, [et al.] // Physical Review Letters. – 2011. – Vol.106, No.3. – p.037401. – URL: http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.106.037401. – Bibliogr.:22.
Спец.(статьи,препринты) = С 344.4б - Методы приготовления тонких пленок$
Fister, T.T.
Total-Reflection Inelastic X-Ray Scattering from a 10-nm Thick La&sub(0.6)Sr&sub(0.4)CoO&sub(3) Thin Film / T.T.Fister, [et al.] // Physical Review Letters. – 2011. – Vol.106, No.3. – p.037401. – URL: http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.106.037401. – Bibliogr.:22.
Спец.(статьи,препринты) = С 344.4б - Методы приготовления тонких пленок$