Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Leedy, K. O. - Scanning Electron Microscope Examination of Wire Bonds from High-Reliability Devices
Leedy, K. O. - Scanning Electron Microscope Examination of Wire Bonds from High-Reliability Devices
Доступно
1 из 1
1 из 1
Книга
Автор: Leedy, K. O.
Scanning Electron Microscope Examination of Wire Bonds from High-Reliability Devices
Серия: NBS. Technical Note
Издательство: NBS, 1973 г.
ISBN отсутствует
Автор: Leedy, K. O.
Scanning Electron Microscope Examination of Wire Bonds from High-Reliability Devices
Серия: NBS. Technical Note
Издательство: NBS, 1973 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Книга
Ц73 L-47
Leedy, K.O.
Scanning Electron Microscope Examination of Wire Bonds from High-Reliability Devices / K.O.Leedy. – Washington : NBS, 1973. – 28 p. : il. – (NBS. Technical Note ; 785). – Bibliogr.2.
Ц73
Индексный (книги) = Ц 73 - Радиоаппаратура и радиодетали
Ц73 L-47
Leedy, K.O.
Scanning Electron Microscope Examination of Wire Bonds from High-Reliability Devices / K.O.Leedy. – Washington : NBS, 1973. – 28 p. : il. – (NBS. Technical Note ; 785). – Bibliogr.2.
Ц73
Индексный (книги) = Ц 73 - Радиоаппаратура и радиодетали
| Филиал | Фонд | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
|---|---|---|---|---|---|
| ЗИЛ | 1 | 1 | 1 | Заказать |