Электронный каталог

Статья

Liu, L.
Nondestructive Measurement and High-Precision Evaluation of the Electrical Conductivity of Doped GaAs Wafers Using Microwaves / L.Liu, Y.Ju // Review of Scientific Instruments. – 2010. – Vol.81, No.12. – p.124701. – URL: http://dx.doi.org/10.1063/1.3518038. – Bibliogr.:18.



Спец.(статьи,препринты) = Ц 848 - Технология производства электронной аппаратуры