Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Das, N. C. - Characterization of Electron Beam Deposited Thin Films of HfO&sub(2) and Binary Thin Films of (Hf...
Das, N. C. - Characterization of Electron Beam Deposited Thin Films of HfO&sub(2) and Binary Thin Films of (Hf...
Доступно
1 из 1
1 из 1
Препринты
Автор: Das, N. C.
Characterization of Electron Beam Deposited Thin Films of HfO&sub(2) and Binary Thin Films of (Hf...
Серия: BARC
Издательство: BARC, 2009 г.
ISBN отсутствует
Автор: Das, N. C.
Characterization of Electron Beam Deposited Thin Films of HfO&sub(2) and Binary Thin Films of (Hf...
Серия: BARC
Издательство: BARC, 2009 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Препринты
802490
Das, N.C.
Characterization of Electron Beam Deposited Thin Films of HfO&sub(2) and Binary Thin Films of (HfO&sub(2):SiO&sub(2)) by XRD and EXAFS Measurements / N.C.Das, [a.o.]. – Bombay : BARC, 2009. – 39p. : il. – (BARC ; 2009/E/023). – Bibliogr.:p.18-21.
Спец.(статьи,препринты) = С 344.4б - Методы приготовления тонких пленок$
802490
Das, N.C.
Characterization of Electron Beam Deposited Thin Films of HfO&sub(2) and Binary Thin Films of (HfO&sub(2):SiO&sub(2)) by XRD and EXAFS Measurements / N.C.Das, [a.o.]. – Bombay : BARC, 2009. – 39p. : il. – (BARC ; 2009/E/023). – Bibliogr.:p.18-21.
Спец.(статьи,препринты) = С 344.4б - Методы приготовления тонких пленок$
| Филиал | Фонд | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
|---|---|---|---|---|---|
| ЗИЛ | 1 | 1 | 1 | Заказать |